安捷伦B1500A半导体参数分析仪

B1500A 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：

带有 Microsoft ? Windows ? 操作系统和 EasyEXPERT 软件的基于 PC 的仪器

用于电流电压 (IV)、电容电压 (CV)、脉冲生成、快速 IV 和时域测量的单盒解决方案。

十个用于源监控单元 (SMU) 和其他模块类型（MFCMU、HV-SPGU 和 WGFMU）的模块插槽

通过 Desktop EasyEXPERT 软件进行离线数据分析和应用测试开发

测量能力：

支持 0.1fA 和 0.5μV 的电流-电压 (IV) 测量

支持准静态和中频电容电压 (CV) 测量

支持针对脉冲 IV、NBTI 和 RTS 噪声 (RTN) 测量等广泛应用的准确快速 IV 和时域测量

支持高电压脉冲生成（高达 ±40 V），用于大功率和存储设备测试

大型机特点：

可配置和可升级的测量模块，每盒多 10 个插槽

15 英寸宽触摸屏支持 EasyEXPERT group+ 的直观 GUI 操作

Windows 嵌入式标准 7 (WES7)

GPIB、USB、LAN接口和VGA视频输出端口

Agilent B1500A 半导体器件分析仪是一款具有十槽配置的模块化仪器，支持 IV 和 CV 测量以及快速高压脉冲。其熟悉的 Microsoft ? Windows ? 用户界面支持安捷伦的 EasyEXPERT 软件，该软件为设备表征提供了一种新的、更直观的面向任务的方法。由于其极低电流、低电压和集成电容测量能力，Agilent B1500A 可用于广泛的半导体器件表征需求（IC-CAP 支持 Agilent B1500A）。它还是非易失性存储单元表征和高速器件表征（包括 NBTI 和 RTS 噪声 (RTN) 测量）的解决方案