4156C 安捷伦半导体参数分析仪

4156C 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应

附加的功能：

用于器件表征的实验室台式参数分析仪

4x 高分辨率 SMU、2xVSU 和 2xVMU

前面板填空操作

包括用于基于 PC 的 GUI 仪器控制的 Desktop EasyEXPERT 软件

测量能力

1 飞安和 0.2 微伏测量分辨率

QSCV、压力模式、旋钮扫描、待机功能

+/- 200 伏特和 +/- 1 安培大功率 SMU，可选 41501B 提供脉冲发生器功能

桌面 EasyEXPERT 软件

B1500A 半导体器件分析仪的相同测试和测量环境

直观、面向任务的参数测试方法

配备 80 多个预定义的、用户可修改的应用程序测试

自动将数据保存到硬盘驱动器或任何网络驱动器

通过 Desktop EasyEXPERT 软件进行离线数据分析和应用测试开发

Agilent 4156C 精密半导体参数分析仪是安捷伦的下一代精密半导体参数分析仪。Agilent 4156C 提供实验室台式参数分析仪，用于器件表征。Agilent 4156C 的低电流和低电压分辨率以及内置的准静态 CV 测量能力为未来与其他测量仪器的扩展奠定了坚实的基础。

Agilent 4156C 精密半导体参数分析仪是用于器件表征的实验室台式解决方案。41501B 扩展器将您的能力扩展到 1A/200V，并在 4156C 上添加了低噪声接地单元和双脉冲发生器。