IM7580日本日置IM7580阻抗分析仪

日本日置IM7580阻抗分析仪

300MHz快、通过高速测量和高反复精度缩短工时、加速生产

测量频率1MHz~300MHz

测量时间：0.5ms

基本精度±0.72%rdg.

紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小

丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）

使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

HIOKI日置阻抗分析仪IM7580的特点：

1.高300MHz的高频测量

IM7580的测量频率为1MHz~300MHz。在以单一频率测量的LCR表的模式下，判断出货检查时的合格与否，改变频率的同时在测量的分析模式下可用于产品开发的特性评估等多种领域中。

2.快0.5ms的高速测量或高稳定性的测量，有助于提高生产效率

可进行快0.5ms（0.0005秒）的高速测量。这样，对于希望速的检查大批量电子元器件的电子元器件厂家来说能够大幅提高生产效率。

而且，测量的反复精度提高到以往产品的1/10，让测量更加稳定，改善了生产产量，提高了生产效率。

3.主机体积更小，有助于降低生产成本

在电子元器件厂家的生产线中，将各种仪器整合在机架上制作成检查系统，然后进行自动检查。因此，主机体积小的话，则检查系统也会小巧，通过安装多台仪器可以索多检查时间，从而降低生产成本。

IM7580的体积是半个机架的大小（长215mm，高200mm，厚268mm），一个机架可以安装2台。