吉时利2612A数字源表服务

作为2600B系列源表SMU系列产品的一部分，2601B型源表SMU [1] 是全新改良版单通道SMU，具有紧密集成的4象限设计，能同步源和测量电压/电流以提高研发到自动生产测试等应用的生产率。除保留了2601A的全部产品特点外，2601B还具有6位半分辨率、USB 2.0连接性以及能轻松移植遗留测试代码的2400源表SMU软件指令仿真。2601B配备了吉时利的高速TSP®技术（比传统PC至仪器的通信技术快200%），这提高了系统级速度，降低了测试成本。TSP-Link接口实现了多通道并行测试并扩展了测试系统，没有主机开销。3A直流、10A脉冲和40V输出的宽量程让2601B适于测试宽范围较大电流器件、材料、组件和分装件。

数字源表执行并行测试，获得无以伦比的吞吐量，20,000读数/秒提供更快的测试时间和能力，捕捉器件瞬态性能，系列产品提供宽动态范围：1fA～10A和1µV～200V，TSP-Link总线支持每GPIB或IP地址多达32单元/64通道的通道扩展，测试脚本处理器（TSP）以的系统自动化在仪器中执行完整的测试程序（脚本），USB端口用于保存数据和测试脚本，LXI Class C兼容性提供高速数据传输并且实现快捷地远程测试、监控和排错

数字源表完整的绘图窗口可以转化原始数据，并立即显示为有用 信息，如半导体I-V曲线和伏安图。使用2460型仪器的电子表 （Sheet）浏览，测试数据还可以以表格形式显示。该仪器 支持将数据输出至电子数据表，用于进一步分析，大大提高 研究、台式测试、设备资格和调试的生产率

2460型仪器的TSP技术支持多个器件并行测试，可以满 足器件研究、半导体实验室应用级高吞吐生产测试需求。 这个并行测试能力允许系统中的每台仪器运行其自身的完整 测试序列，建立完全的多线程测试环境。2460型仪器可并行 运行的测试数量与系统中仪器数量相同。

当2460型仪器配置为多通道I-V测试系统时，嵌入式测试 脚本处理器(TSP®)允许其运行测试脚本，因此用户可以创建 功能强大的测试应用，并大幅缩短开发时间。TSP技术还提供 无需主机的通道扩展能力。吉时利的TSP-Link®通道扩展总线 采用100 Base T以太网电缆，可以在主从配置中实现多部 2460型仪器与其他TSP仪器的连接
数字源表是测量静电场中电势差的仪器。使用时，金属球连接高电势，金属外壳接低电势 。这样金属球、金属杆、指针均属于高电势（因稳定后属等势体），外壳属于低电势。则在高低电势之间存在电场，即指针与外壳间存在电场，指针内的带电粒子在电场力的作用下，会集中于指针的针尖处，由于两个指针带同种电荷，所以之间会有排斥力，电势差越大，电场越强，集中于针尖处的电荷越多，排斥力越大，张角越大